26.01.2018
Reliability of hexagonal boron nitride dielectric stacks for CMOS applications
Prof. Mario Lanza, Institute of Functional Nano & Soft Materials, Soochow University, China
Sprecher: Prof. 
Mario Lanza, Institute of Functional Nano & Soft Materials, Soochow University, China
Termin: Freitag, 26. January 2018, 12:00 Uhr
Veranstaltungsort: Seminarraum EG 0.001, Zentrum für Nanotechnologie und Nanomaterialien (ZNN), Am Coulombwall 4a, Garching
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Abstract